據FabTech網站報道，Nanometrics日前宣布收購了一家以色列薄膜厚度集成測量（integrated metrology,IM）設備供應商，名為Tevet Process Control Technologies。交易全部以現金完成，相關細節尚未公布。

　　Tevet由風險投資成立，成立于1999年。2007年曾募集1300萬美元進行開發Trajectory T3設備，此薄膜厚度集成測量設備已經用于PECVD工藝中。

　　Nanometrics集成測量事業部主管Steve Bradley表示，新的IM產品與現有產品大為不同，將顯著補充我們的IM業務。此次收購意味著我們將開始向領先半導體OEM廠商以及太陽能制造產業進軍。